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Franz Josef Gießibl

Franz Josef Gießibl (* 27. Mai 1962 in Amerang) ist ein deutscher Physiker und Universitätsprofessor an der Universität Regensburg.

Inhaltsverzeichnis

Leben


Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der Technischen Universität München und an der Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich. 1988 diplomierte er an der Technischen Universität München bei Professor Gerhard Abstreiter mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik. Die Promotion erfolgte 1991 bei Nobelpreisträger Gerd Binnig an der Universität München über Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Nach der Promotion entwickelte er bei Park Scientific Instruments im Silicon Valley, Sunnyvale, USA das erste Rasterkraftmikroskop, das reaktive Oberflächen wie Silizium atomar auflösen konnte. Danach arbeitete er als Senior Associate zur Unternehmensberatungsfirma McKinsey von 1995 bis 1996 und erfand er in seiner Freizeit den qPlus Sensor, eine Sonde für die Rasterkraftmikroskopie. Danach wandte er sich wieder vollständig der Forschung an der Rasterkraftmikroskopie bei Professor Jochen Mannhart an der Universität Augsburg zu und wurde 2001 habilitiert.

2006 erhielt er einen Ruf auf einen Lehrstuhl für Angewandte und Experimentelle Physik an die Universität Regensburg, den er annahm. Von 2005 bis 2010 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte am IBM Research Laboratory in Almaden, Kalifornien. Von Herbst 2015 bis Frühjahr 2016 war er Gastprofessor am NIST in Gaithersburg, Maryland, USA und an der University of Maryland in College Park.[1]

Gießibl ist verheiratet und hat zwei Söhne.

Wissenschaftliche Beiträge


Gießibl ist seit dem Beginn seiner Promotion 1988 von der Rasterkraftmikroskopie fasziniert, verbessert sie seitdem kontinuierlich[2][3][4] und hat grundlegende experimentelle,[5][6] instrumentierungsbezogene[7] und theoretische[8][9] Arbeiten zur Rasterkraftmikroskopie verfasst.

Ein Beispiel ist der qPlus Sensor.[10][11] Dieser ursprünglich auf einer Quarzstimmgabel basierende Sensor ist etwa um einen Faktor 100 steifer als herkömmliche Silizium-Kraftdetektoren und kann dadurch selbst annähernd im Kontakt mit einer Oberfläche stabil mit kleinen Amplituden von Bruchteilen eines Atomdurchmessers schwingen. Der qPlus Sensor wird heute in vielen kommerziellen[12][13] und selbstgebauten Rasterkraftmikroskopen eingesetzt und hat es zum Beispiel ermöglicht, subatomare Ortsauflösung auf einzelnen Atomen[6][14] und submolekulare Auflösung auf organischen Molekülen[15] zu erreichen.

Auszeichnungen


Weblinks


Vorträge (Auswahl)

Interviews (Auswahl)

Zu Gießibl

Einzelnachweise


  1. US Department of Commerce, NIST: Franz Giessibl. In: nist.gov. Abgerufen am 10. April 2016 (englisch).
  2. Spiegel Online – 27. Juli 2000: Wissenschaft Nanophysik: Atome unterm Mikroskop.
  3. Die Welt. 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen.
  4. The New York Times. 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom.
  5. F. J. Giessibl: Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71, doi:10.1126/science.267.5194.68 , PMID 17840059.
  6. a b F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–426, PMID 10903196 (science.sciencemag.org ).
  7. F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparsion of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121 , doi:10.1103/PhysRevB.84.125409 , arxiv:1104.2987 (15 Seiten).
  8. F. J. Giessibl: Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. In: Physical Review B. Band 56, Nr. 24, 1997, S. 16010–16015, doi:10.1103/PhysRevB.56.16010 .
  9. F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861 , S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949 , arxiv:cond-mat/0305119 .
  10. F. J. Giessibl: Device for noncontact intermittent contact scanning of a surface and a process therefore. US Patent 6240771.
  11. F. J. Giessibl: Sensor for noncontact profiling of a surface. US Patent 8393009.
  12. CreaTec Fischer & Co. GmbH (createc.de ).
  13. Low Temperature SPM – Scienta Omicron. (scientaomicron.com ).
  14. M. Emmrich, et al.: Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. In: Science. Band 348, Nr. 6232, 2015, S. 308–311, hier S. 308, doi:10.1126/science.aaa5329 , PMID 25791086.
  15. L. Gross et al.: The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. In: Science. Band 325, Nr. 5944, 2009, S. 1110–1114, hier S. 1110, doi:10.1126/science.1176210 , PMID 19713523.
  16. Rudolf Jaeckel-Preis 2015 an Prof. Dr. Franz J. Gießibl. In: Vakuum in Forschung und Praxis. Band 27, Nr. 5, 2015, ISSN 0947-076X , S. 38–38, doi:10.1002/vipr.201590050 .



Kategorien: Physiker (20. Jahrhundert) | Physiker (21. Jahrhundert) | Erfinder | Hochschullehrer (Universität Regensburg) | Deutscher | Geboren 1962 | Mann


Quelle: Wikipedia - https://de.wikipedia.org/wiki/Franz Josef Gießibl (Autoren [Versionsgeschichte])    Lizenz: CC-by-sa-3.0

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